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創(chuàng)3 PXI使射頻測試儀器推動邊界
PXI創(chuàng)3,新版本的PXI標(biāo)準(zhǔn)在PCI總線傳輸數(shù)據(jù)在PXI底板使射頻儀器特別是收集,從許多測試系統(tǒng)和過程數(shù)據(jù),并允許開發(fā)人員獲得更深入的發(fā)展他們的產(chǎn)品。
創(chuàng)3支持24 GBps的傳輸率系統(tǒng)帶寬,帶寬和8 GBps槽。這使得PXI測試儀器模塊收集和傳輸更多的數(shù)據(jù)在實時。
這使得射頻工程師使用測試儀器像倪PXIe 5668 r獲得信號最寬765 MHz帶寬和傳輸?shù)臄?shù)據(jù)進(jìn)行處理。
這使得許多新測試場景要成功實現(xiàn)更嚴(yán)格的和深入的雷達(dá)等測試,測試的電子戰(zhàn)系統(tǒng),半導(dǎo)體特性描述。
雷達(dá)測試,雷達(dá)脈沖變得極窄增加對象的分辨率更清楚。進(jìn)行測試,這意味著有必要準(zhǔn)確地捕捉這些窄脈沖,這需要一個更廣泛的瞬時帶寬儀器。
與半導(dǎo)體描述另一個領(lǐng)域的發(fā)展,例如802.11交流通道帶寬高達(dá)160兆赫,這將需要一個實時捕獲的480 mhz帶寬相鄰信道功率測量,等等。
這意味著對于許多開發(fā)測試,數(shù)據(jù)從這個捕獲帶寬需要處理。以這種速度傳輸數(shù)據(jù)在PXI總線只能新創(chuàng)3 PXI更新完成。
例如樣本765 MHz帶寬、采樣率必須至少1.5 gsamples每秒。每個樣品都是4個字節(jié)導(dǎo)致至少6 gbps單通道。
高性能創(chuàng)3控制器還提供了處理大量數(shù)據(jù)的能力。
這樣可以看出新的測試工具支持這些廣泛的帶寬以及匹配PXI底盤的許多領(lǐng)域正在迅速成為一個必要性測試和描述。
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